
仪器设备
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探针式表面轮廓仪
时间:2015-06-18 来源:
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仪器名称 |
探针式表面轮廓仪 |
型 号 |
DEKTAK-XT |
仪器编号 |
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仪器来源 |
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生产厂商 |
布鲁克公司 |
启用日期 |
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仪器类别 |
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仪器原值 |
271876.52元 |
所在单位部门 |
中科院化学研究所-高技术实验室 |
仪器负责人 |
王 娟 |
联系电话 |
010-62639779
010-62562871 |
地 址 |
北京市海淀区中关村北一街2号3号楼0104 |
邮 编 |
100190 |
E-mail |
wjlip@iccas.ac.cn |
主要技术指标 |
扫描长度:55mm
垂直范围:1mm
台阶高度重现性:5Å
垂直分辨率:1Å |
包含主要附件 |
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仪器主要功能 |
纳米尺度的表面轮廓测量
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仪器服务领域 |
微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。 |
计量认证资质 |
否 |
实验室认可 |
否 |
仪器现状 |
正常 |
收费标准 |
电询 |
中国科学院极端环境高分子材料重点实验室
地址:北京海淀区中关村北一街二号 邮编:100190