
仪器设备
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棱镜耦合测试仪
时间:2016-07-04 来源:
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仪器名称 |
棱镜耦合测试仪 |
型 号 |
Model 2010/M |
仪器编号 |
20150793 |
仪器来源 |
|
生产厂商 |
美国Metricon公司 |
启用日期 |
2015.6 |
仪器类别 |
|
仪器原值 |
41.617997万元 |
所在单位部门 |
中科院化学研究所-高技术实验室 |
仪器负责人 |
王 娟 |
联系电话 |
010-62639779
010-62562871 |
地 址 |
北京市海淀区中关村北一街2号3号楼0104 |
邮 编 |
100190 |
E-mail |
wjlip@iccas.ac.cn |
主要技术指标 |
折射率测量范围:1.0~2.45
折射率分辨率:±0.0003
厚度测量范围:0.12~150μm
厚度精确度:±(0.5%+50Å)
波导损耗测试精度:0.05 |
包含主要附件 |
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仪器主要功能 |
用于电解质和聚合物膜的厚度、折射率和波导参数的快速测量 |
仪器服务领域 |
薄膜、大面积材料及光波导 |
计量认证资质 |
否 |
实验室认可 |
否 |
仪器现状 |
正常 |
收费标准 |
电询 |
中国科学院极端环境高分子材料重点实验室
地址:北京海淀区中关村北一街二号 邮编:100190